Statistische Neubewertung von EMV-Prüfnormen
Die gültigen und in diversen Normen festgelegten Prüfverfahren für die EMV basieren auf Festlegungen, die zum größten Teil aus den 1960-er stammen und daher auf die Anwendung auf Analoggeräte zugeschnitten sind. Die heute üblichen digitalen Elektronikgeräte weisen aber im Vergleich zu Analoggeräten eine deutlich höhere Anzahl an möglichen Betriebszuständen auf. Daher ist eine fundamentale Neubewertung der EMV-Tests nötig, an deren Ende statt eines deterministischen Aussage über ein Gerät eine statistische Aussage über die EMV-Eigenschafte eines Prüflings stehen wird.
Bereits erreichte Ziele:
- Berechnung der Wahrscheinlichkeit von falsch-positiven Tests gegen NEMP (zusammen mit der Professur für Rechnergestützte Statistik der HSU, Prof. Knoth, Fak. Für Wirtschafts- und Sozialwissenschaften)
- Bewertung der Parametertoleranzen in den NEMP-Testnormen durch Simulationen unter PROTHEUS und MatLab (09/2013)
Einfluß von Alterungseffekten auf die EMV-Eigenschaften von Schaltungen
In den aktuellen EMV-Prüfnormen wird für elektrische Geräte i.d.R. der Nachweis gefordert, dass dies Umgebung nicht durch kabel- oder feldgeführte Störungen beeinflusst wird. Diese Tests werden am Prototyp oder einem Vorserienmodell durchgeführt und berücksichtigen nicht etwaige Änderungen an den Geräten, die durch Alterung der Geräte im Betrieb (z.B. durch vielfaches Schalten) oder durch Umwelteinflüsse wie Feuchtigkeits- oder Temperaturänderungen entstehen. Diese Effekte sind vor allem bei leistungselektronischen Komponenten zu erwarten und kritisch z.B. im Zusammenhang mit die Einführung von smart grids zu sehen, in denen internetgesteuerte Leistungsschalter eine weite Verbreitung finden werden.
Im Zusammenarbeit mit der Professur für Leistungselektronik der HSU (Prof. Hoffmann, Fak. f. Elektrotechnik) und der Griffith School of Engineering (Brisbane, AUS – Kontakt: Prof. Junwei Lu) sollen die EMV-Eigenschaften verschiedener Geräte gemessen werden, bevor diese einer künstlichen Alterung durch vielfaches Ein- und Ausschalten, Betrieb bei erhöhter Spannung bzw. Stromstärke und durch Anwendung einer steuerbaren Klimakammer unterzogen werden. Erneute Messung und Vergleich mit den ursprünglichen Werten liefert dann Ergebnisse für die Verschlechterung der EMV-Eigenschaften des Gerätes, die zukünftig in die EMV-Prüfnormen einfließen müssen. Gemessen werden die Netzrückwirkungen des Geräts sowie das abgestrahlte Nahfeld mit Hilfe eines Nahfeldscanners
Kontakt : Lars Ole Fichte
Letzte Änderung: 3. November 2017