Allgemeines

Die Professur für Hochfrequenztechnik an der Helmut-Schmidt-Universität / Universität der Bundeswehr Hamburg wurde im April 1974 eingerichtet und von Herrn Prof. Dr.–Ing. H.G. Wäßerling bis zu dessen Ausscheiden im März 1990 geleitet. Im Oktober 1990 ging die Leitung der Professur an Herrn Univ.-Prof. Dr.–Ing. habil. W. Platte über. Mit diesem Wechsel erfolgte eine Umwidmung der Professur in „Hochfrequenztechnik und Optoelektronik“. Nach einer kurzen Vakanz ging die Leitung der Professur im Juli 2009 unter ihrer urprünglichen Denomination „Hochfrequenztechnik“ an Herrn Univ.-Prof. Dr.–Ing. C.G. Schäffer über. Seit dessen Eintritt in den Ruhestand im Oktober 2021 ist Herr PD Dr.–Ing. T. Fickenscher vom Präsidenten mit der Wahrnehmung der dienstlichen Obliegenheit beauftragt.

Hochfrequenz- und mikrowellentechnische Ausstattung:

  • Vektorielle Netzwerkanalyse bis 170 GHz
  • Spektralanalyse 100 Hz – 40 GHz und 60 – 170 GHz (Oberwellenmischer)
  • Digitale Zeitbereichsmessungen bis 80 Gsamples/s
  • Bitfehlermesstechnik bis 2*12.5 GBit/s
  • Generatoren und Synthesizer bis 67 GHz und 75 GHz – 170 GHz bei kleiner und mittlerer Leistung
  • Antennenmesstechnik
  • HF-Absorberkabine DC – 35 GHz, Abmessungen H x B x T: 2,35 m x 2,30 m x 3,50 m

Optoelektronische Ausstattung:

  • Faseroptische Messtechnik für Komponenten und integriert optische Schaltungen
  • Hochaufgelöste optische Spektralanalyse
  • NIR Hochleistungslaserdioden bis 80 W cw, 120 W gepulst
  • Laserlabor Schutzklasse IV

Simulationstools:

  • High Frequency Structure Simulator HFSS
  • CST Microwave Studio
  • EM Simulation Software FEKO
  • Advanced Design System ADS

  • Antennendesign
  • Antennenmesstechnik
  • Koexistenz von Windenergieanlagen mit Funk- und Radarsystemen
  • Simulation elektromagnetischer Feldprobleme in der Hochfrequenztechnik
  • Systemsimulation & Signalverarbeitung für SONAR/RADAR mit synthetischer Apertur
  • Passive Millimeterwellenschaltungen (Verbindungen, Resonatoren, Filter, Antennen)
  • Charakterisierung von Mikrowellenschaltungen bis 110 GHz
  • Zerstörungsfreie Prüfung & Materialcharakterisierung
  • Optisch gesteuerte Mikro- und Millimeterwellenkomponenten

HSU

Letzte Änderung: 12. Januar 2023